Systém měření vyzařovacích charakteristik světelných zdrojů

Systém měření vyzařovacích charakteristik světelných zdrojů

Systém měření vyzařovacích charakteristik světelných zdrojů se skládá z dvouosé otočné lavice, řídicí jednotky, ručního ovladače a měřicího přístroje. Softwarová část systému obstarává komunikaci s řídicí jednotkou polohovací lavice, sběr a vizualizaci naměřených dat. Pro polohování dvouosé lavice byly použity 4,5 Nm dvoufázové krokové motory. Řídicí jednotka obsahuje dvě jednotky SMC, napájecí zdroj a dva výkonové drivery. Pro komunikaci s PC je použito USB rozhraní. Jednotky SMC a jednotka ručního ovladače jsou propojeny sériovou sběrnicí. 


Blokové znázornění celého systému

Syndikovat obsah

Software pro SPC

Informační systém zabezpečující sběr dat, databázové zpracování a vyhodnocování naměřených hodnot rozsáhlou sadou grafických nástrojů pro vizualizaci výsledků statistických analýz. Určen pro pracoviště vstupní, výstupní a mezioperační kontroly, řízení kvality a technické přípravy výroby. Vhodný pro výrobce součástí, dílců a sestav, kteří splňují požadavky norem ISO 9000, ISO 14000, QS9000, VDA 6 a ISO/TS 16949.

Čtěte více zde...

QTREE-CAQ Monitor.NET

Představujeme QTREE-CAQ Monitor.NET - Systém monitorování kvality. Zákazníkovi je nabízen jedinečný ucelený produkt, který najde své uplatnění jak při kontrole výrobě diskrétních součástí (strojírenství, automobilový průmysl), tak při laboratorní kontrole kontinuálních výrobních procesů, (potravinářství, chemie, stavební hmoty) i při výstupní kontrole a testování finálních produktů a celých sestav.

Čtěte více zde...

Evidence a kalibrace měřidel

QTREE-EM C/S - Informační systém metrologie

QTREE-EM C/S je základní součástí produktové řady QTREE CAQ SYSTEMS , která je původním a vlastním softwarovým řešením počítačové podpory řízení kvality - CAQ firmy TŘEŠTÍK. Jedná se o informační systém, určený pro metrologická pracoviště a výdejny, kde plní funkci operativní evidence měřidel a funkci evidence souvisejících servisních a kontrolních úkonů.

Čtěte více zde...